SiCパワーデバイスの薄化・裏面研削 | 超精密グラインダーの加工事例2

超精密グラインダーNSFseriesによるSiC・GaNパワーデバイスなどのバックグラインディング、薄化加工事例をご紹介。


SiC基板のバックグラインディングを
最高の能率、最小のコストで。

SiCの薄化・裏面研削とは、主にパワーデバイス等の用途で性能向上のためにSiC基板の厚みを薄化する加工のこと。BG、バックグラインディングとも呼ばれます。 ナガセの定圧定量複合制御研削はSiCなどの高硬度な脆性材料を高能率・高精度に薄化・平坦化するために生み出された革新的な加工法です。従来のインフィード研削に対して数倍の能率と少ない工具摩耗で6インチサイズのSiCも効率よく極薄化することが可能です。



加工サンプル

単結晶SiCウェハの薄化・BG加工
(バックグラインディング)

加工レート:94μm/min※前加工試算値
材質:単結晶SiCウェハ
サイズ:6インチ 
加工機:NSF-350

SiCウェハの平坦化研削加工

TTV:1μm, LTV:0.8μm
材質:単結晶SiCウェハ
サイズ:4インチ 
加工機:NSF-350


SiCウェハの鏡面研削加工(C面)

面粗度:Ra 0.61nm,Rz 4.80nm
材質:単結晶SiCウェハ
サイズ:4インチ
加工機:NSF-350

t20µmまで薄化したSiCウェハ

SORI:極少
サイズ:2インチ×3枚加工


アルミナセラミックスの超薄化加工

平行度:1μm
加工レート:50μm/min

材質:アルミナセラミックス
サイズ:100×100×0.1mm 
加工機:NSF-600

純ニッケルの超高能率・極薄平坦化加工

面粗度:Ra 0.69nm,Rz 5.12nm
加工レート:75μm/min(粗加工)

材質:純ニッケル
サイズ:155×130mm 
加工機:NSF-600


低熱膨張ガラスの超鏡面研削加工

面粗度:Ra 0.69nm,Rz 5.12nm
材質:低熱膨張ガラス
サイズ:φ200×25mm 
加工機:NSF-600

超硬の超鏡面研削加工

面粗度:Ra 0.6nm,Rz 3.9nm
材質:超硬
サイズ:φ70mm 
加工機:NSF-600



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